线宽测试仪及RIN噪声分析仪

厂商:美国OEwaves公司
美国OEwaves公司的超窄激光线宽/频率噪声测试仪利用零差方法进行自动测量,能够准确测试超低相位噪声的激光器光源。通过方便快捷的软件界面进行操作,能够瞬间测试10Hz以下线宽的激光器,无需复杂的搭建系统。该系统利用零差测试法,测量覆盖范围大,无需额外的超窄激光器,同时系统还能够测试相位/频率噪声及相对强度噪声(RIN)。

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商品描述

厂商:美国OEwaves公司
美国OEwaves公司的超窄激光线宽/频率噪声测试仪利用零差方法进行自动测量,能够准确测试超低相位噪声的激光器光源。通过方便快捷的软件界面进行操作,能够瞬间测试10Hz以下线宽的激光器,无需复杂的搭建系统。该系统利用零差测试法,测量覆盖范围大,无需额外的超窄激光器,同时系统还能够测试相位/频率噪声及相对强度噪声(RIN)。


参数

1530-1565nm输入

频率噪声偏差

10Hz

100Hz

1KHz

1MHz

标准噪底

250 Hz/√Hz

50 Hz/√Hz

10 Hz/√Hz

3 Hz/√Hz

超低噪底选项

50 Hz/√Hz

10 Hz/√Hz

2 Hz/√Hz

0.2 Hz/√Hz

相位噪底

-140 ± 2 dBc/Hz > 1 MHz

线宽测试范围(FWHM

1 KHz – 10MHz (<10 ms)

光输入功率范围

+5 to +15 dBm (PM-FC/APC)

偏差频率范围

10Hz - 1MHz

测量类型

零差相位/频率噪声,

可选测试RIN(Noise Floor: -160 ± 2 dB/Hz > 1 MHz)

数据接口

HDD /USB

带宽分辨率

0.1 Hz - 200 kHz

操作温度范围

15° - 35° C

供电

110/120 or 220/240 Vac, 50/60 Hz

尺寸

3U x 19” Rack Mount

可配选项

低或高功率输入范围

-10+20 dBm范围内最多15db

客户定制输入波长

定制波段630-2200 nm,尺寸达到9U

超低噪底

FWHM线宽测试范围3Hz – 30kHz (< 10ms)

扩展补偿频率范围

相位/频率噪声最低1 Hz或者最高2GHz

RIN测试

相对强度噪声最大到40GHz,尺寸可能增加